游离硅的定性·定量分析

工业环境测定中矿物性粉尘的管理浓度为按以下公式计算出的量。（从2005年4月1日开始实行）
E=3.0/（0.59Q+1） （参考）修订前E=2.9/（0.22Q+1）E：管理浓度mg/m³ Q：游离硅含有率（%）
所以知道粉尘中游离硅酸的含有率是很重要的。

游离硅种类有石英、微晶物、鳞石英等。 在此回修订中，首先规定使用X射线衍射装置掌握含有什么种类的游离硅（定性分析），根据其定性结果，以使用磷酸法或X射线衍射装置的基底标准吸收校正法进行定量。

下图表示这些游离硅的衍射模式，分别具有各自的特征峰，因此，易于识别其种类。

物质的衍射X射线强度因受基底物质吸收的影响，必须进行校正。为进行校正必须求得基底物质的X射线吸收系数。可在一次的测定中将其完成的方法就是「基底标准吸收校正法」。本测定包包括采用了此基底吸收校正法的专用定量分析软件。